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芯片恒溫恒濕測(cè)試箱

更新時(shí)間:2024-10-13
型號(hào):LQ-TH-100F
訪問(wèn)次數(shù):1081
芯片恒溫恒濕測(cè)試箱常用于中小大型等企業(yè)及生產(chǎn)廠家試驗(yàn)室做試驗(yàn)用的,所以也可以高精度恒溫恒濕試驗(yàn)箱。精度是測(cè)量值與真值的接近程度。高精度恒溫恒濕箱是指試驗(yàn)箱的溫度分布均勻度非常精準(zhǔn),能滿足標(biāo)準(zhǔn)要求的精度。
  • 詳細(xì)內(nèi)容
品牌柳沁科技儀器種類立式
產(chǎn)地類別國(guó)產(chǎn)價(jià)格區(qū)間1萬(wàn)-5萬(wàn)
應(yīng)用領(lǐng)域醫(yī)療衛(wèi)生,電子,交通,制藥,電氣溫度范圍-70~+150℃
內(nèi)尺寸500*400*500溫度均勻度≤±2℃
溫度波動(dòng)度≤±0.5℃

芯片恒溫恒濕測(cè)試箱常用于中小大型等企業(yè)及生產(chǎn)廠家試驗(yàn)室做試驗(yàn)用的,所以也可以高精度恒溫恒濕試驗(yàn)箱。精度是測(cè)量值與真值的接近程度。高精度恒溫恒濕箱是指試驗(yàn)箱的溫度分布均勻度非常精準(zhǔn),能滿足標(biāo)準(zhǔn)要求的精度。

工作室內(nèi)箱尺寸寬*高*深(cm): 40*50*40;50*50*40;50*60*50;50*75*60;60*85*80;100*100*800;100*100*100。

此類設(shè)備溫度解析精度為0.01℃,濕度解析精度為0.1%R.H,溫度控制精度為±0.2℃,濕度控制精度為±2%R.H,溫度均勻度為±2℃,濕度均勻度為≤±3%R.H(+2、-3%RH),溫度波動(dòng)度為±0.5℃,濕度波動(dòng)度:±2%,以上均為行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)要求的精度指標(biāo),柳沁產(chǎn)品保證達(dá)到。

芯片恒溫恒濕測(cè)試箱執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):

性能指標(biāo)符合GB5170、2、3、5、6-2008 《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法低溫、高溫、恒定濕熱、交變濕熱試驗(yàn)設(shè)備》的要求。

GJB150.3(ML-STD0-810D)高溫試驗(yàn)方法。

GJB150.4(MIL-STD-810D)低溫試驗(yàn)方法。

GJB150.9-1986《設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法:濕熱試驗(yàn)》。

GJB4.5-1983《船舶電子設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)恒定濕熱試驗(yàn)》。

電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法GB 2423.1-2008 (IEC68-2-1)。

電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法GB 2423.2-2008 (IEC68-2-2)。

電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Ca:恒定濕熱試驗(yàn)方法GB/T 2423.3-2008(IEC68-2-3)。

電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Da:交變濕熱試驗(yàn)方法GB/T423.4-2008(IEC68-2-30)。

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