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芯片測(cè)試?yán)錈釠_擊檢測(cè)實(shí)驗(yàn)箱

更新時(shí)間:2024-11-11
型號(hào):LQ-TS-150A
訪問(wèn)次數(shù):1346
芯片測(cè)試?yán)錈釠_擊檢測(cè)實(shí)驗(yàn)箱是一種模擬自然界溫度急 劇變化的試驗(yàn)設(shè)備,通過(guò)它能測(cè)試產(chǎn)品在溫度快速變化的過(guò)程中所受到的物理和化學(xué)方面的損害,從而發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品潛在的質(zhì)量問(wèn)題,進(jìn)而對(duì)其改進(jìn)優(yōu)化。冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)是金屬、塑料、航空、航天、橡膠、電子等材料行業(yè)*的試驗(yàn)設(shè)備。
  • 詳細(xì)內(nèi)容
品牌其他品牌價(jià)格區(qū)間5萬(wàn)-10萬(wàn)
產(chǎn)地類(lèi)別國(guó)產(chǎn)應(yīng)用領(lǐng)域化工,農(nóng)業(yè),電子,航天,汽車(chē)

芯片測(cè)試?yán)錈釠_擊檢測(cè)實(shí)驗(yàn)箱符合標(biāo)準(zhǔn):

1、GB 10589-89 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件2、GB 10592-89 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件3、GB/T5170.2-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備4、GB/T2423.1-2008(IEC60068-2-1:2007) 《低溫試驗(yàn)方法Ab》5、GB/T2423.2-2008(IEC60068-2-2:2007) 《高溫試驗(yàn)方法Bb》

6、GJB150.3A-2009裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第3部分:高溫試驗(yàn)

7、GJB150.4A-2009裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第3部分:低溫試驗(yàn)

8、GJB150.5-1986溫度沖擊試驗(yàn)

 

芯片測(cè)試?yán)錈釠_擊檢測(cè)實(shí)驗(yàn)箱性能參數(shù)參考如下:

一、低溫沖擊可選擇溫度范圍:A-20℃;B-40℃;C:55℃;D:-65℃(廠家還免費(fèi)配高溫至150度)。

二、溫度偏差:±2℃。

三、溫度波動(dòng)度:±0.5℃。

四、溫度恢復(fù)時(shí)間:≤5min。

五、溫度恢復(fù)條件:高溫150℃曝露30min低溫-20℃曝露30min,高溫150℃曝露30min低溫-40℃曝露30min,高溫150℃曝露30min低溫-55℃曝露30min,高溫150℃曝露30min低溫-65℃曝露30min。

六、溫度沖擊轉(zhuǎn)移方式:采用氣動(dòng)驅(qū)動(dòng)。   

七、高溫室儲(chǔ)溫的升溫時(shí)間:30min (+25℃~+200℃)。

八、低溫室儲(chǔ)溫的降溫時(shí)間:65min (+25℃~-75℃)。

九、低溫沖擊試驗(yàn)機(jī)|低溫沖擊機(jī)|沖擊試驗(yàn)機(jī)工作時(shí)的噪音:(dB)≤65( 標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定≤65分貝不算噪音)

十、型號(hào)             內(nèi)箱尺寸(mm)             外箱尺寸(mm)           功率(kw)

LQ-TS-49       W360×H350×D400        W1550×H1730×D1440           18.5       

LQ-TS-80       W500×H400×D400        W1650×H1830×D1500           23.0

LQ-TS-150      W600×H500×D500        W1750×H1930×D1570           28.0

LQ-TS-225      W500×H750×D600        W1450×H2100×D1670           34.0

LQ-TS-408      W750×H800×D800        W1550×H2150×D1900           42.0

 

柳沁科技LQ-TS芯片測(cè)試?yán)錈釠_擊實(shí)驗(yàn)箱示例圖1

柳沁科技LQ-TS芯片測(cè)試?yán)錈釠_擊實(shí)驗(yàn)箱示例圖2

柳沁科技LQ-TS芯片測(cè)試?yán)錈釠_擊實(shí)驗(yàn)箱示例圖3

柳沁科技LQ-TS芯片測(cè)試?yán)錈釠_擊實(shí)驗(yàn)箱示例圖4

柳沁科技LQ-TS芯片測(cè)試?yán)錈釠_擊實(shí)驗(yàn)箱示例圖5


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