品牌 | 其他品牌 | 價(jià)格區(qū)間 | 5萬(wàn)-10萬(wàn) |
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產(chǎn)地類(lèi)別 | 國(guó)產(chǎn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,農(nóng)業(yè),電子,航天,汽車(chē) |
芯片測(cè)試?yán)錈釠_擊檢測(cè)實(shí)驗(yàn)箱符合標(biāo)準(zhǔn):
1、GB 10589-89 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件2、GB 10592-89 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件3、GB/T5170.2-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備4、GB/T2423.1-2008(IEC60068-2-1:2007) 《低溫試驗(yàn)方法Ab》5、GB/T2423.2-2008(IEC60068-2-2:2007) 《高溫試驗(yàn)方法Bb》
6、GJB150.3A-2009裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第3部分:高溫試驗(yàn)
7、GJB150.4A-2009裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第3部分:低溫試驗(yàn)
8、GJB150.5-1986溫度沖擊試驗(yàn)
芯片測(cè)試?yán)錈釠_擊檢測(cè)實(shí)驗(yàn)箱性能參數(shù)參考如下:
一、低溫沖擊可選擇溫度范圍:A-20℃;B-40℃;C:55℃;D:-65℃(廠家還免費(fèi)配高溫至150度)。
二、溫度偏差:±2℃。
三、溫度波動(dòng)度:±0.5℃。
四、溫度恢復(fù)時(shí)間:≤5min。
五、溫度恢復(fù)條件:高溫150℃曝露30min低溫-20℃曝露30min,高溫150℃曝露30min低溫-40℃曝露30min,高溫150℃曝露30min低溫-55℃曝露30min,高溫150℃曝露30min低溫-65℃曝露30min。
六、溫度沖擊轉(zhuǎn)移方式:采用氣動(dòng)驅(qū)動(dòng)。
七、高溫室儲(chǔ)溫的升溫時(shí)間:30min (+25℃~+200℃)。
八、低溫室儲(chǔ)溫的降溫時(shí)間:65min (+25℃~-75℃)。
九、低溫沖擊試驗(yàn)機(jī)|低溫沖擊機(jī)|沖擊試驗(yàn)機(jī)工作時(shí)的噪音:(dB)≤65( 標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定≤65分貝不算噪音)
十、型號(hào) 內(nèi)箱尺寸(mm) 外箱尺寸(mm) 功率(kw)
LQ-TS-49 W360×H350×D400 W1550×H1730×D1440 18.5
LQ-TS-80 W500×H400×D400 W1650×H1830×D1500 23.0
LQ-TS-150 W600×H500×D500 W1750×H1930×D1570 28.0
LQ-TS-225 W500×H750×D600 W1450×H2100×D1670 34.0
LQ-TS-408 W750×H800×D800 W1550×H2150×D1900 42.0